Altechna衰減器 增強型Watt Pilot采用電機驅動的旋轉石英λ/ 2相位波片和一個或兩個薄膜偏振片，可在平行方向上分離s偏光和p偏光。選擇純p偏光可實現最大透射，選擇純s偏光可實現最大衰減。通過旋轉波片連續調節分離光束的強度比。

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更新日期：2025-12-17

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Altechna擴束鏡 可變擴束鏡是需要不同放大倍率和精確控制激光束發散的系統的理想選擇。

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更新日期：2025-12-17

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質檢——精密光學測量儀器 LAYERTEC的精密光學設備配備了用于平面和球形曲面的干涉儀。可以為平面度為λ/ 20（633nm）的平面基板和形狀度為λ/ 10（633nm）的球形基板提供干涉測量規程。

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ZAP-IT®激光校準紙設計用于測試從紫外到紅外的脈沖激光的特性。光束特性是通過在光路內手持激光校準紙進行記錄的。激光校準紙非常適合用于校準應用或與激光光學件結合使用，其中包括激光擴束器、光學透鏡、光圈、衰減器或功率儀表。對于連續波激光，可以使用機械斬波器或Q開關，或者手動快速地打開和關閉激光，以產生短脈沖。

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Clavis3 QKD平臺 量子密鑰分配（QKD）是一項利用量子物理學的基本原理（觀察引起擾動）的技術，可通過可證明的安全性在光纖網絡上交換密碼密鑰。

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1900-2100nm激光調光片 可將不可見近紅外波段光束轉換成可見光，能夠有效實現對紅外光束的探測、跟蹤、校對、識別

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更新日期：2025-12-17

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