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大灰度測(cè)試卡
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 更新時(shí)間：2025-12-16
- 產(chǎn)品介紹：大灰度測(cè)試卡尺寸為8.5 “ x 11 “，采用白色相紙材質(zhì)，由一組不等的灰階圖組成，可用來(lái)方便的測(cè)試光學(xué)系統(tǒng)的灰度等級(jí)特性，有15個(gè)密度等級(jí)，光密度從0.09到1.5，共有兩行灰階，一行從高光 密度到低光密度，另一行從低光密度到高光密度，相鄰灰度光學(xué)密度遞增或遞減0.10，光密度之間的變化是線性的，反映了光線反射率的對(duì)數(shù)變化。
- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類(lèi)別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池 |
大灰度測(cè)試卡
15個(gè)不同灰階
灰階之間為對(duì)數(shù)關(guān)系
大灰度測(cè)試卡尺寸為8.5 " x 11 "，采用白色相紙材質(zhì)，由一組不等的灰階圖組成，可用來(lái)方便的測(cè)試光學(xué)系統(tǒng)的灰度等級(jí)特性，有15個(gè)密度等級(jí)，光密度從0.09到1.5，共有兩行灰階，一行從高光 密度到低光密度，另一行從低光密度到高光密度，相鄰灰度光學(xué)密度遞增或遞減0.10，光密度之間的變化是線性的，反映了光線反射率的對(duì)數(shù)變化。因?yàn)橐粋€(gè)對(duì) 數(shù)反射率變化比一張可比較的線性圖提供更直觀的增量，用在系統(tǒng)測(cè)試上更方便。紙是0.2mm厚，為白色表面無(wú)光澤的相紙。
| 標(biāo)題 | 產(chǎn)品編碼 |
| 大灰度測(cè)試卡 | #53-712 |
